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[测试技巧] 关于DDR的一致性测试软件

最近测试发现,同样的连接方式,采用一致性测试软件测试DDR的时序参数,多次测量值会发生变化,有些pass的item重复测试一次可能fail,请问大家如何看待这个问题?大家在测试过程中,如何保证测试的误差尽可能小呢?随着速率越来越高,测试误差的影响将越来越大,可能导致结果直接就是错误的,那测试也就没意义了。

你们用的是什么平台啊?

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原来pass的项目裕量大吗
如果人生也能仿真...

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我们用的是安捷伦的方案,拿tjit(CC) 这个指标来说,第一次测试174.2ps,连接方式不动,再次测试一次,却可能变为-283ps,和DDR2规范比较,前后大约100ps的差异,这个值对DDR2的参数指标来说,已经比较大了,误差这么大,要是DDR3那不是测出来都没意义了?如何判断测试结果,很困惑。
另外向大家请教一下,有源探头测试时,要接一个damp resister,大家是如何选择的呢?为什么安捷伦的探头,根据信号线的长度不一样,直流电阻会有几十欧的差异呢?

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不错...........................................

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